В связи с этим предлагается несколько иной набор сигналов с двоичной половины микросхемы:Shaos wrote:P.S. Для отладки можно предусмотреть возможность снятия состояний всех горизонтальных линий через последовательный интерфейс (точно также по 2 бита на трит) либо адресовать их N-битным адресом (их всего 135 предполагается в полноценном варианте 7x9 из которых 9 будут входами, что уменьшает интересуемое количество до 126, умещаясь в 7 бит адреса)
pin 1 - IO1
pin 2 - IO2
pin 3 - IO3
pin 4 - IO4
pin 5 - IO5
pin 6 - IO6
pin 7 - IO7
pin 8 - IO8
pin 9 - IO9
pin 10 - Vneg (общая земля)
pin 11 - Vref (среднее значение между Vneg и Vpos - обычно +2.5В)
pin 12 - Vpos (общее питание +5В)
pin 13 - GND (двоичная земля, тоже самое что и Vneg на троичной стороне) или /PRG (разрешение программирования)?
pin 14 - /RES (сброс программы устройства)
pin 15 - SCK (входной клок для Slave SPI)
pin 16 - SDI (вход данных для Slave SPI)
pin 17 - SDO (выход данных для Slave SPI если тестовый адрес 0000000) или TEST (троичный тестовый выход, если TA=1...127)
pin 18 - TA0 (тестовый адресный бит 0)
pin 19 - TA1 (тестовый адресный бит 1)
pin 20 - TA2 (тестовый адресный бит 2)
pin 21 - TA3 (тестовый адресный бит 3)
pin 22 - TA4 (тестовый адресный бит 4)
pin 23 - TA5 (тестовый адресный бит 5)
pin 24 - TA6 (тестовый адресный бит 6)
т.е. самостоятельной загрузки с внешней микросхемы памяти пока не предполагается - для этой версии обязательно будет нужен микроконтроллер, который зальёт прошивку через SPI при подаче питания
P.S. при подключении земли к Vref эта микросхема вырождается в двоичную программируемую матрицу с открытой архитектурой

P.P.S. выход TEST можно использовать для существенного расширения количества выходов - просто будет нужна какая-то внешняя схема, которая будет постоянно перебирать необходимый набор адресов TA (которых может быть сильно меньше 127) и сохранять состояние TEST на внешних триггерах
